ZWシリーズ溶接ダイオードの検査・梱包
試験方法と検査規定
1. バッチごとの検査（グループ A 検査）
製品の各バッチは表 1 に従って検査する必要があり、表 1 のすべての項目は非破壊検査です。
表 1 バッチごとの検査
| グループ | 検査アイテム | 検査方法 | 基準 | AQL（Ⅱ） |
| A1 | 外観 | 目視検査（通常の照明および視覚条件下） | ロゴはクリアで表面の塗装やメッキの剥がれやダメージはありません。 | 1.5 |
| A2a | 電気的特性 | JB/T 7624—1994 の 4.1(25℃)、4.4.3(25℃) | 極性が反転した場合:VFM>10USL IRRM>100USL | 0.65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) JB/T 7624—1994 | 要件に対する苦情 | 1.0 |
| IRRM | JB/T 7624—1994 の 4.4.3 (25℃、170℃) | 要件に対する苦情 | ||
| 注: USL は最大制限値です。 | ||||
2. 定期検査（グループB検査、グループC検査）
表２によれば、通常の生産における完成品は、毎年少なくとも１バッチのグループＢ及びグループＣの検査を行う必要があり、（Ｄ）の付いた検査項目は破壊試験である。最初の検査が不適格な場合は、付録表 A.2 に従って追加のサンプリングを再検査できますが、1 回に限ります。
表2 定期検査（グループB）
| グループ | 検査アイテム | 検査方法 | 基準 | サンプリング計画 | |
| n | Ac | ||||
| B5 | 温度サイクル (D) とその後の密閉 |
| 試験後の測定：VFM≤1.1USL IRRM≤2USL 漏れない | 6 | 1 |
| CRRL | 各グループの関連する属性、V を簡単に説明します。FM そして私RRMテスト前後の値とテストの結論。 | ||||
3. 本人確認検査（グループD検査）
製品が完成し生産評価に入る際には、A、B、Cグループの検査に加え、表3に従ってDグループ試験も実施する必要があり、(D)の付いた検査項目は破壊試験となります。最終製品の通常の生産は、3 年ごとにグループ D の少なくとも 1 つのバッチをテストする必要があります。
最初の検査が不合格の場合は、付録表 A.2 に従って追加のサンプリングを再検査できますが、それは 1 回のみです。
表3 識別試験
| No | グループ | 検査アイテム | 検査方法 | 基準 | サンプリング計画 | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | 熱サイクル負荷試験 | サイクルタイム: 5000 | 試験後の測定値：VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | 衝撃や振動 | 100g：6msホールド、半正弦波形、互いに直交する3軸の2方向、各方向3回、合計18回。20g：100～2000Hz、各方向2時間、合計6時間。 | 試験後の測定値：VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | 各グループの関連する属性データ、V を簡単に示します。FM , IRRMそして私DRMテスト前後の値とテストの結論。 | |||||
マーキングとパッケージング
1. マーク
1.1 製品のマークには以下が含まれます
1.1.1 製品番号
1.1.2 端末識別マーク
1.1.3 会社名または商標
1.1.4 検査ロット識別コード
1.2 カートンまたは付属の説明書のロゴ
1.2.1 製品型式と規格番号
1.2.2 会社名とロゴ
1.2.3 防湿・防雨標識
1.3 パッケージ
製品の梱包要件は国内規制または顧客の要件に準拠する必要があります
1.4 製品ドキュメント
製品の型式、実装規格番号、特別な電気的性能要件、外観などを文書に記載する必要があります。
の溶接ダイオード江蘇楊杰 Runau Semiconductor によって生産され、抵抗溶接機、最大 2000Hz 以上の中高周波溶接機に広く適用されています。超低順ピーク電圧、超低熱抵抗、最先端の製造技術、優れた代替能力、世界中のユーザー向けの安定した性能を備えた江蘇揚杰潤納半導体の溶接ダイオードは、中国電力の最も信頼性の高いデバイスの 1 つです。半導体製品。